扫描电镜主要用于直接观察样品表面的三维结构,扫描电镜的成像原理是电子枪产生的电子束通过三个磁透镜形成电子探针，通过透镜聚焦在样品表面，即样品扫描，然后样品表面发射的各种电子被探测器收集并转换成电流信号，经放大后送到显像管进行转换,透射电镜收集穿过样品的电子，扫描电镜收集样品表面反射的电子并成像。
扫描电镜(TEM)和transmission电镜目前广泛应用于各种物质结构、组织成分和化学成分的研究中，地位十分重要。具体区别如下:1。透射电镜收集穿过样品的电子，扫描 电镜收集样品表面反射的电子并成像。2.观察到的图像是不同的。透射电镜可以观察到样品的内部结构，但一般只能观察到切片后的二维图像。很多厚的不能被电子穿透的样品，只能用-1电镜才能看到。扫描 电镜主要用于直接观察样品表面的三维结构。图像是立体的，但只能反映样品的表面形貌，不能显示样品内部的详细结构。3.成像原理不同。扫描 电镜的成像原理是电子枪产生的电子束通过三个磁透镜形成电子探针，通过透镜聚焦在样品表面，即样品扫描，然后样品表面发射的各种电子被探测器收集并转换成电流信号，经放大后送到显像管进行转换。
当分辨率在纳米和原子范围内时，扫描 电镜(SEM)和原子力电镜(AFM)是当今我们可用的最有效的两种显微技术，各有优缺点。它们之间的根本区别在于它们在不同的环境中运行。SEM需要在真空环境下进行，而AFM在空气或液体环境下操作。因此，如果要确定液体中细小颗粒的形态，AFM更合适。通常AFM 扫描含水样品是通过将它和扫描探针放在液体中进行的，因为AFM不是基于电导率，所以图像和扫描模块在液体中不会受到干扰。
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